CellaCrystal PA 45 是专为晶体生长过程中温度高达 3200 ℃ 的高温炉中的光学温度测量而开发的。该测温仪采用商数测量法,测量范围大,整个测量范围内的分辨率始终保持在 < 0.1 K。 特殊的信号处理确保了极高的测量精度。因此,该设备能够满足生产过程中对长期稳定性的高要求。 测温仪可通过透镜瞄准器或摄像机精确对准测量点。专题报道: