CellaCrystal PX 64用于CVD(化学气相沉积)涂层过程的温度测量。由于其特殊的波长,高温计也可用于等离子体增强蒸气沉积。专题报道:测量范围 500 – 1400 °C专为使用等离子体辅助 CVD 过程进行测量而开发恒定光商测量过程无旋转滤光片由于自热极小而具