CellaWafer PA 38 是一款数字测温仪,用于测量 450 (300) 至 1800 °C 之间的硅片温度。由于其测量波长非常短且频带窄,该设备特别适用于测量硅片和金属(钨、钼......),并且对被测物体发射率的变化反应不太敏感。专题报道:测量范围450至1800 °C (可在300 °C以上使用,但精度会降低)