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Pirómetro CellaCrystal PX 44

El CellaCrystal PX 44 ha sido desarrollado para la medición óptica de la temperatura en la producción de cristales de Si y SiC. El calibrado está especialmente adaptado al proceso de cultivo. Gracias

Pirómetro CellaCrystal PX 44

Descripción del artículo

El CellaCrystal PX 44 ha sido desarrollado para la medición óptica de la temperatura en la producción de cristales de Si y SiC. El calibrado está especialmente adaptado al proceso de cultivo. Gracias a la evaluación híbrida de la señal con una alta resolución constante de < 0.1 K en todo el rango de medición y a la altísima estabilidad a largo plazo gracias a la tecnología de sensor de luz constante, el dispositivo cumple los elevados requisitos de precisión de medición necesarios.

Características especiales:
  • Rango de medición de 750 a 3000 °C
  • PX 44 AF 4 calibración especial para la producción de cristales de silicio
  • PX 44 AF 7 calibración especial para la producción de carburo de silicio
  • Evaluación de señal híbrida para alta resolución metrológica
  • Alta duración Estabilidad gracias al mínimo autocalentamiento
  • Óptica enfocable para un ajuste preciso de la distancia de medición
  • Estándar: interfaz IO-Link y salida analógica


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Características de la videocámara

Pirómetro CellaCrystal PX 44
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Más información sobre IO-Link:

Versión CellaCrystal PX 44 AF 4 
Versión CellaCrystal PX 40 AF 7 
Rango de medición 750 - 2400 °C 
Rango de medición 850 - 3000 °C 
Distancia de enfoque 0,4 m - ∞ 
Forma del campo de visión redondo 
Relación óptica 150 : 1 
Objetivo PZ 20.01 
Principio de medición de cociente 
Dispositivo de mira Visor a través de la lente 
Dispositivo de mira Puntero láser 
Dispositivo de mira Videocámara